铝合金阳极氧化的好处包括耐用性、颜色稳定性、易于维护、美观性、表面处理的成本以及它是一个安全健康的过程。通过在制造过程中加入测试程序，可以最大限度地发挥这些优势，生产出高性能的铝合金饰面。

阳极氧化膜厚度测量

测量阳极氧化铝厚度的最常见方法是涡流法（图1）。涡流法使用包含线圈的探头，该探头线圈由高频振荡器驱动，以产生交变高频场。当该场靠近金属导体时，在该导电材料中产生涡流，导致探头线圈的阻抗变化。探头线圈和导电基板材料之间的距离决定了阻抗变化的量。因此，膜层厚度由数字读数形式的阻抗变化决定。常见的应用包括铝和非磁性不锈钢上的液体或粉末涂层，以及铝合金上的阳极氧化膜层。

图1：涡流测试膜厚的方法

在选择测量阳极氧化厚度设备方面，有多种类型可供选择。典型的手持仪器有一个内置的整体探头或导线上的探头。台式装置也可用于更详细地评估膜层厚度。内置探头（图2）是连续线圈阳极氧化过程的理想选择，在这种过程中，通常需要有较大的测量区域。带有单独探头的装置（图3）更适合批量阳极氧化工艺，涡流测试的单独探头的大小尺寸不一（图4），可以根据实际需求选择合适的探头。一些系统将最常用的测试方法组合在一个测量系统中。在这些情况下，测量系统根据所选的测试方法，使用特定的探头和相应的测试模块进行操作。

图2：内置探头单元 (Fischer MPO)                

图3：带独立探头的装置（Fischer FMP10）

图4：涡流测试的探头

无论使用哪种类型的膜层厚度仪器，最终用户都应该了解可能影响阳极氧化厚度读数的因素。膜层厚度测量中的因素会影响读数的准确性。其中一些影响因素如表面曲率、到零件边缘的距离、基材厚度、表面粗糙度和探头压力。有关这些影响的更多信息，请参阅ASTM B244。图5总结了这些影响，下面引用了ASTM B244中描述的影响因素的具体定义。

图5：阳极氧化膜厚读数的影响

表面曲率——测量值受到试样表面曲率的影响。曲率的影响因仪器的品牌和类型而异，但随着曲率半径的减小，其影响总是更加明显。然而，技术的进步使一种特殊探头的开发成为可能，这种探头消除了曲率对膜层厚度测量的影响。除非已证明此类测量的校准调整有效，否则不得在试样的曲面上读取读数。

边缘效应——涡流测厚对试样表面轮廓的突然变化很敏感。因此，除非仪器经过专门校准，否则在边缘或内角附近进行的测量将无效。除非已证明此类测量的校准调整有效性，否则不得在靠近试样边缘、孔、内角等的位置读取读数。

基体金属厚度——对于每次测量，都有一个基体金属的临界厚度，超过该厚度，测量将不会受到该厚度增加的影响。如果不是由测量仪器制造商提供，则应通过实验确定其值，因为它取决于探头系统的测量频率和基底金属的导电性。一般来说，对于给定的测量频率，基底金属的电导率越高，其临界厚度越小。对于给定的基体金属， 测量频率越高，基体金属的临界厚度越小。

表面粗糙度——测量受到基体金属和涂层表面形貌的影响。因此，有必要在粗糙或划痕的表面上，在不同位置进行更多次测量，以获得代表平均膜层厚度的平均值。如果基体金属粗糙，可能还需要在未涂覆的粗糙基体金属的一部分上的几个位置检查仪器的零点。

电导率——涡流测量受到基体金属电导率的影响，而基体金属本身也经常受到热处理的影响。

外来异物——涡流仪器的探头必须与试验表面进行物理接触，因此，对防止探头与膜层表面紧密接触的异物敏感。测试表面和仪器探头均应无异物。在进行测量之前，清除表面上的任何异物，如污垢、油脂和腐蚀产物，而无需去除任何涂层材料。

压力——探针施加在试样上的压力会影响仪器读数，因此应保持恒定。

读数次数——根据统计原理，通过增加读数次数，可以提高测量精度。由于正常的仪器可变性，有必要在每个位置进行多次读数。膜层厚度的局部变化也可能要求在任何给定区域进行多次测量；这尤其适用于粗糙表面。

可以通过读取将要使用的实际基板上的认证箔的读数来进行校正校准，以减少影响。在使用过程中，应经常验证校准精度，至少每天一次。然后，该校准可以存储在测试单元中，这样用户就不必对每个零件进行重新校准。如果仪表提供此功能，用户可以通过按下按钮选择代表特定校准的应用程序。

如前所述，如果校准不正确，基材的曲率会影响膜层厚度值。实际上，如果原始的预阳极氧化零件不可用于校准，就可能会很困难。由于管子和其他曲面通常经过阳极氧化处理，膜层厚度读数中的曲率影响可能特别麻烦。

通过使用特殊的探头设计，研究得出了一种补偿方法，该方法几乎消除了曲率依赖性，提高了读数的准确性。这反过来又使得测量不同形状表面上的膜层成为可能，而不必不断地重新校准到特定的零件几何形状。

使用批量阳极氧化工艺的公司最有可能遇到曲面。常见的批量阳极氧化零件包括弯曲金属零件、铸件、炊具、化妆品盒、手电筒主体和机加工铝零件。